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美國Radiant Precision LC II鐵電分析儀主要包括由鐵電測試部分, 高壓輸出部分, 高壓保護部分組成。可用于材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集,可進行電滯回線測試、疲勞測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測試等鐵電性能的檢測。

NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀為LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Engineering Surfaces等領域提供納米級別精度的測量.

Radiant塔式薄膜壓電測量裝置可測量懸臂梁上沉積的壓電薄膜的壓電系數(shù)。施加在壓電薄膜上的電壓將使基片向不同方向彎曲。所述位移被配置在懸臂端的運動的位移傳感器捕獲。Radiant測試包可兼容72毫米（4“）和43毫米（2”）兩種懸臂梁，Radiant還提供了一個塔變量（LDV）-與激光測振儀或Polytec的系統(tǒng)。

Nanosystem NV-2700 非接觸式3D輪廓儀，通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉臺可方便的進行放大倍數(shù)的轉換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。

Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉臺可方便的進行放大倍數(shù)的轉換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。

Nanosystem NV-1000白光干涉儀是利用白光干涉特性來進行表面形貌的測量，它結合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一個非常大的面積高達21.7毫米x16.3毫米。這使得高精度和大面積快速測量成為可能，而無需縫合。